剪切干涉仪
主要特点
定性的光束准直测试，适用于直径为Ø1-Ø50毫米的光束
磁性耦合可调设计，允许快速更换剪切板
英制和公制螺纹安装孔
SI系列剪切干涉仪可用于确定相干光束是否准直。该设计包括一个45度安装的楔形光学平板，和一块位于中间的带刻度参考线的散射屏。
散射屏用于观察由光学平板的前后表面的菲涅尔反射产生的干涉条纹。如果光束已经准直，干涉条纹会平行于带刻度的参考线。除了准直度以外，干涉条纹还对球差、慧差和像散敏感。
技术参数
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Item #
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Wedge
Angle
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Diameter
+0/-0.25 mm
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Thickness
± 0.25 mm
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Approximate
ΔOPL*
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Dimensions
(L x W x H) (mm)
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SI035
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117 arcsec
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5.28 mm
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0.75 mm
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1.91 mm
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50.8 x 48.3 x 55.9
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SI050
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83 arcsec
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7.94 mm
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1.30 mm
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3.31 mm
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50.8 x 48.3 x 55.9
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SI100
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40 arcsec
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15.60 mm
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2.60 mm
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6.62 mm
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50.8 x 48.3 x 55.9
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SI254
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18 arcsec
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38.00 mm
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6.35 mm
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16.18 mm
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50.8 x 48.3 x 55.9
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SI500
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10 arcsec
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78.00 mm
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13.00 mm
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33.12 mm
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116.8 x 133.4 x 134.6
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* 为了确保能产生干涉，请检查所用的光源的相干长度大于光程长（ΔOPL）的近似改变。当使用光源的相干长度接近ΔOPL的几倍，干涉条纹的对比度会下降。一旦相干长度接近ΔOPL，实际上是在对非相干光有效成像。假设平行反射表面被厚度分开，对于UVFS（n=1.457@632.8纳米），计算的ΔOPL列在上表中。
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Item #
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Included
Plate*
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Compatible Plates
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Compatible
Accessories
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Threaded
Mounting Holes
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SI035
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SI035P
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SI035P, SI050P, SI100P, and SI254P
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SIVS, SITST**
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8-32 and M4
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SI050
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SI050P
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SI035P, SI050P, SI100P, and SI254P
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SIVS, SITST**
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8-32 and M4
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SI100
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SI100P
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SI035P, SI050P, SI100P, and SI254P
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SIVS, SITST**
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8-32 and M4
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SI254
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SI254P
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SI035P, SI050P, SI100P, and SI254P
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–
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8-32 and M4
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SI500
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SI500P
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SI500P
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–
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* 楔形板用UVFS制成
** 机械尺寸：Ø30.5毫米x 50.0毫米
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