狭缝扫描式光束质量分析仪
主要特点
高精度分析光束质量和空间功率分布
单个独立的测量头
用于连续或脉冲激光束
扫描速度可变
集成功率计（未校准）
高动态范围
低噪声放大器
2D或伪3D图形
快速USB2.0连接PC
软件的特性
带易于调节的子窗口的多功能图形界面
可调节位置的X和Y轴截面轮廓
带椭圆光束拟合的2D功率密度图形，灵活的3D图形
总光束功率随时间的曲线
分析中心位置的漂移
图形和文本文件输出可按序列保存
通过/失败分析
自动M²光束质量测量模块
更高精度的热噪点和背景光校正
可设置的颜色配置
技术参数
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Item #
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BP10x-UV
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BP10x-VIS
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BP10x-IR
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BP10x-IR2
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Wavelength Range (nm)
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200 - 1100
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400 - 1100
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700 - 1800
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1000 - 2700
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Detector Type
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Si - UV Enhanced
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Si
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Ge
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Extended InGaAs
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Aperture Diameter
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4 mm (BP104-xx), 9 mm (BP109-xx)
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Slit Size
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2.5 µm (BP104-xx), 5 µm (BP109-xx)
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Min Beam Diameter
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10 µm (BP104-xx), 20 µm (BP109-xx)
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产品描述
双扫描狭缝光束质量分析仪易于对准，可同时快速测量X和Y轴轮廓，其动态范围是72dB。光束直径按照ISO11146标准测量，光束直径的显示可以用一些行业标准的限幅电平，如1/e2 (13.5%) 和 50%或任意限幅电平输入显示。该系统提供4种波长范围：紫外200-1100纳米，可见400-1100纳米，红外700-1800纳米和红外1000-2700纳米。此外，提供两种狭缝和孔径尺寸：BP104型号的物理孔径是4毫米，可用于小到10微米(1/e2)的光束直径；而BP109型号的物理孔径是9毫米，可适合小到20微米(1/e2)的光束直径。可达20 HZ的可变扫描速率可实时对准光学系统。可在动态变化的系统中监控光束参数和空间功率分布。为进行绝对的光功率测量，用户可使用集成的功率计和软件，在感兴趣的波长进行校准测量，从而校正系统。
光束质量分析仪可直接连接PC进行工作，不需要其他硬件或电源。为便于使用，Thorlabs利用高速USB2.0接口将测量头连接到用户提供的PC。灵活的数据输出选项和读出选项，经TCP/IP到标准数据插座服务器，便于集成到定制的数据处理环境中。
脉冲激光光束
可以测量重复频率为10 Hz或以上的任意脉冲宽度的脉冲激光光源的光束轮廓。采用XY狭缝进行多次扫描重构完全的光束形状。手动调节扫描速度，使其非常接近激光的重复频率的整数部分，以达到同步。详细描述参见操作手册。M²测量的最小脉冲重复频率>= 300 kHz。
