Hinds 双折射测量系统Exicor 150AT
利用光弹调制来测试样品的应力及分布，分辨率高达 0.001nm；无需样品旋转，即可测量主轴和延迟轴的线性双折射系数、圆周双折射系数的旋转角；二维或三维显示，同时还可以测试样品消光比。可全自动操作，高灵敏度与高速两种模式可选。
应用：
光学晶体， 聚合物膜的取向，由于薄膜和基材之间热膨胀系数不同引起的应力； 某些透明材料的内部应力，如光学晶体，玻璃等；液晶显示屏，晶体，胶片等材料的双折射分布。
具体参数指标如下：
高灵敏度模式：
|
延迟/光程差 位相差
|
|
Redardation
|
|
测试范围： 0.005nm～100+nm
|
|
分解率： 0.001nm 0.01deg.
|
|
重复性: ±0.008nm ±0.05deg.
|
|
扫描范围： 150mm x 150mm
|
|
测试速度： 10pps
|
|
高速模式：
|
|
延迟/光程差 位相差
|
|
Redardation
|
|
测试范围： 0.005nm～300+nm
|
|
分解率： 0.001nm 0.01deg.
|
|
重复精度： ±0.015nm ±0.07deg.
|
|
测试速度： 60pps
|
|
扫描范围： 150mm x 150mm
|
