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反应离子刻蚀  

主要特点

气体通过顶部电极淋喷头进气口进入处理室

在下部电极形成负自给偏压

单个RF等离子体源确定离子密度和能量

为了避免电极材料的溅射和再沉积,衬底通常放置在一块石英和石墨盖板上

5-500 mTorr工作气压  

RIE的功能

普通等离子刻蚀的经济解决方案

操作简单

刻蚀工艺的多选择性

高速各向同性的化学刻蚀

中等速率的各向异性的离子诱导刻蚀

慢速率各向异性的物理刻蚀

广泛应用在半导体加工故障和失败分析

大多数材料能够刻蚀,包括介电材料(SiO2, SiNx, etc.),硅基材料(Si, a-Si, poly-Si)III-V材料 (GaAs, InP, GaN, etc.),金属材料(Au, Pt, Ti, Ta, W, etc.),类金刚石碳 (DLC)

型号及参数

参数                  

电极尺寸

240mm

460mm

240mm

330mm

装载

Open Load

Open Load

Load Locked

Load Locked

衬底

见产品手册

见产品手册

200mm 多晶片或小片

300mm多晶片或小片

MFC 控制输气管道

8 or 12 line gas box available

8 or 12 line gas box available

8 or 12 line gas box available

8 or 12 line gas box available

晶圆台温度范围

10-80C°

       10-80C°

Minus 20C° to 80C°

Minus 20C° to 80C°

He背面冷却选项

yes

no

yes

no

ICP 选项

yes

no

no

no

聚焦等字体

yes

yes

no

no

 

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