霍尔效应测试系统
霍尔效应测量系统主要用于研究光电材料的电学特性,可以测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。
主要参数:
1. 样品固定方式:弹簧探针或引线治具
2. 温度:70~730K;80~580K;70~580K;80~730K;室温~730K(可选)
3. 磁场:5000Gauss永磁铁,3500Gauss电磁场, 1.4T电磁场(可选)
4. 温度稳定度:<=0.05K
5. 温度响应:1K/sec
6. 致冷片:10X14 mm
7. 电阻率:10-6~1013 Ohm*cm
8. 载流子迁移率:10-2~109 cm2/volt*sec
9. 载流子浓度:102~1022cm-3
10. 电流范围:0.1 pA~10mA
11. 电压范围:+/-2.5V,最小可测到6X10-6 V
12. 电阻范围:10 m Ohms~ 10G Ohms